Nanyang JZJ cree que estudiar el uso de la fluorescencia de rayos X (XRF) en diferentes materiales es un conocimiento significativo. Los científicos usan rayos X basándose en el principio de la técnica llamada 'espectrómetro XRB', lo cual les da información sobre qué elementos están presentes en materiales atómicamente delgados. Pero también necesitamos considerar algunas desventajas de esta herramienta. Aquí hay cinco limitaciones simplificadas de la XRF para explicar.
Valor: Funciona en materiales detectando fácilmente diferentes elementos en contraste con los métodos ICP que están básicamente limitados. Claro que no es perfecto y existen algunas restricciones de watchQuery. Hay algunas cosas que el XRF no detecta en absoluto. Esto se debe a que algunos de los elementos que contienen no emiten rayos X que sean leídos por la máquina. Algunos gases y metales más pesados pueden no ser identificados como el XRF, que no puede detectarlos si estás analizando un material que incluye dichos elementos. Esto es subóptimo porque, ¿y si quieres verificar esos elementos más adelante...? Entonces, tener la tarjeta en la posición i de forma nativa podría llevar a otra configuración completamente diferente y tomará más tiempo.
Estándares: Un problema primario asociado con los científicos que utilizan XRF para cuantificar cualquier elemento en una sustancia es que las leyes científicas les exigen emplear estándares. El estándar es un valor para el elemento que la máquina conoce para ayudarla a identificar qué buscar o medir y con qué precisión. Esto hace imposible saber con certeza cuánto del elemento está realmente en tu muestra. Esto los hace difíciles de medir con precisión. Los resultados de la investigación pueden llevar a errores, o el material en cuestión puede ser utilizado incorrectamente si las mediciones no son exactamente correctas.
Sin embargo, una limitación significativa de XRF es que solo proporciona análisis superficial. En otras palabras, cuando se trata de un material con varias capas, XRF solo puede detectar la primera capa. Un ejemplo de esto es que con una pieza de madera pintada como en la imagen anterior, podemos saber qué tipo de pintura tiene en el exterior, pero no si hay excesos de plomo o estarcido en su interior. Evite usar términos como no destructivo, ya que, en cuanto al instrumento que cumple únicamente con su deber de probar toda la sección metálica, XRF estudiará solo la capa externa. Si solo le preocupa lo que está en los primeros micrones de superficie, esto no sería un problema, pero si existe información adicional valiosa sobre lo que hay debajo de la superficie, entonces XRF no necesariamente sería ideal. Si es necesario, busque otras maneras de obtener esa información de fondo.
Capacidad del XRF para detectar cualquier cambio en el material que se está analizando. Esto hace que los resultados sean bastante sensibles a cualquier pequeña desviación en las propiedades del material. Por ejemplo, si el material tiene varios elementos diferentes mezclados de manera que es imposible separarlos físicamente para analizarlos de forma independiente, el XRF puede no ser capaz de determinar con precisión cuánto de cada elemento está presente. Además, si el material es el mismo pero el elemento está en un estado químico diferente (forma, por ejemplo, +2 o +3, etc.), esto también confunde los resultados del XRF. Esa sensibilidad puede generar sorpresas que socaven la confianza de un científico en los datos que están recibiendo.
Una medición crítica adicional que la XRF no puede lograr es proporcionar información sobre la profundidad de penetración dentro de un material. La XRF solo mira la superficie, por lo que no nos da una imagen de cuánto se dispersa a través de su propio volumen — ya sean recubrimientos o elementos superiores. Si clasificas el material en un número exacto de elementos, esto puede ser un gran problema. Un ejemplo de esto sería si estás inspeccionando un objeto metálico y quieres entender cuánto titanio existe a lo largo de todo el componente, la XRF no te va a proporcionar la respuesta.
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Nanyang JZJ Testing Equipment Co., Ltd, está ubicada en Nanyang, provincia de Henan, China, una ciudad con un rico fondo cultural e histórico. Actualmente, se ha convertido en una empresa líder en la cadena de suministro de la industria de materiales a altas temperaturas (materiales refractarios), operando en Asia, Europa, Oriente Medio y África.
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