नानयांग जेजेडजे का मानना है कि विभिन्न सामग्रियों पर एक्स-रे फ्लोरोसेंस (एक्सआरएफ) के उपयोग का अध्ययन करना एक महत्वपूर्ण ज्ञान है। वैज्ञानिक एक्स-रे का उपयोग एक्सआरबी स्पेक्ट्रोमीटर नामक तकनीक के सिद्धांत पर आधारित करते हैं, जो उन्हें यह जानकारी देते हैं कि परमाणु रूप से पतली सामग्री में कौन से तत्व मौजूद हैं। लेकिन हमें इस उपकरण के कुछ नुकसानों पर भी विचार करने की जरूरत है। यहाँ एक्सआरएफ की पांच सरल त्रुटियों को समझाया गया है।
मान: यह आसानी से विभिन्न तत्वों को पदार्थों में पता लगाने में सक्षम है, जो ICP विधियों की तुलना में मूल रूप से सीमित है। यह बिल्कुल सही नहीं है और watchQuery के कुछ बाधाएँ हैं। XRF कुछ चीजें पूरी तरह से पता नहीं लगा पाता है। यह इसलिए है क्योंकि उनमें मौजूद कुछ तत्व X-रे की रोशनी नहीं उत्सर्जित करते जो मशीन द्वारा पढ़े जाते हैं। कुछ गैसें और भारी धातुएँ XRF द्वारा पहचानी नहीं जा सकती हैं, जो ऐसे तत्वों को विश्लेषण कर रहे हैं। यह अधिकतम नहीं है क्योंकि अगर आप बाद में उन तत्वों की जाँच करना चाहते हैं...? फिर शायद स्थिति i में कार्ड प्राप्त करना एक और सेटअप में अग्रिम नेतृत्व देगा और इसमें अधिक समय लगेगा।
मानक एक प्राथमिक समस्या वैज्ञानिकों के लिए XRF का उपयोग करने के साथ किसी भी तत्व की मात्रा को पदार्थ में मापने के लिए यह है कि वैज्ञानिक नियमों को उन्हें मानकों का उपयोग करना पड़ता है। मानक तत्व का मान है जिसे मशीन को याद है ताकि यह उसे पहचान सके कि क्या ढूंढना है या क्या मापना है और कितनी सटीकता से। यह आपके नमूने में वास्तव में तत्व की कितनी मात्रा है इसको ठीक से जानना असंभव बना देता है। यह उन्हें सटीक रूप से मापने में कठिन बना देता है। शोध परिणाम त्रुटियों की ओर जा सकते हैं, या मापने में गलती होने पर प्रश्नों के सामग्री का गलत तरीके से उपयोग किया जा सकता है।
हालांकि, XRF की एक महत्वपूर्ण सीमा यह है कि यह केवल सतही विश्लेषण प्रदान करती है। दूसरे शब्दों में, जब एक ऐसे पदार्थ की बात आती है जिसमें विभिन्न परतें होती हैं, तो XRF केवल पहली परत का पता लगा सकती है। इसका एक उदाहरण यह है कि एक पेंट किए गए लकड़ी के टुकड़े के साथ, जैसा कि ऊपरी छवि में है, हम आपको बता सकते हैं कि बाहरी ओर किस प्रकार का पेंट है, लेकिन अंदर में लेड या स्टेंसिल आदि के सीमा के बारे में नहीं। 'अनवधिक्षयी' शब्दों का उपयोग न करें, अन्यथा, जिस उपकरण का कर्तव्य पूरा मेटल सेक्शन का परीक्षण करना है, XRF केवल कोट का अध्ययन करेगी। यदि आप केवल बाहरी कुछ माइक्रोन की चिंता कर रहे हैं, तो यह कोई मुद्दा नहीं है, लेकिन यदि सतह के नीचे के बारे में अतिरिक्त जानकारी है, तो XRF आदर्श नहीं होगी। अगर आपको होना है, तो उस पृष्ठभूमि जानकारी को प्राप्त करने के अन्य तरीके ढूंढ़ें।
XRF की क्षमता किसी भी परिवर्तन को सेंस करने की जो सामग्री को विश्लेषण कर रही है। यह अपेक्षकता को बहुत संवेदनशील बना देता है किसी भी छोटी सी सामग्री के गुणों में विचलन के लिए। उदाहरण के लिए, यदि सामग्री में कई अलग-अलग तत्व हैं जो एक साथ मिले हुए हैं और उन्हें भौतिक रूप से अलग करना असंभव है ताकि उन्हें स्वतंत्र रूप से विश्लेषित किया जा सके, XRF को प्रत्येक तत्व की मात्रा को सटीक रूप से निर्धारित करने में सक्षम नहीं हो सकता। इसके अलावा, यदि सामग्री एक ही है लेकिन तत्व अलग-अलग रासायनिक अवस्था (रूप यानी +2 या +3 आदि) में है, तो यह फिर से XRF परिणामों को भ्रमित करता है। यह संवेदनशीलता आश्चर्य का कारण बन सकती है जो एक वैज्ञानिक की डेटा में विश्वास को कम कर सकती है।
एक अतिरिक्त महत्वपूर्ण माप जो एक्सआरएफ प्राप्त नहीं कर सकता है वह सामग्री के अंदर प्रवेश की गहराई के बारे में जानकारी प्रदान करने में सक्षम है। एक्सआरएफ केवल सतह को देखता है, इसलिए हमें यह चित्र नहीं देता है कि यह अपने स्वयं के थोक के माध्यम से कितना बिखरा हुआ है चाहे वह कोटिंग्स या टॉपिंग-एलिमेंट्स हो। यदि आप सामग्री को तत्वों की सटीक संख्या में क्रमबद्ध करते हैं, तो यह एक बड़ी समस्या हो सकती है। इसका एक उदाहरण यह होगा कि यदि आप धातु की वस्तु का निरीक्षण कर रहे हैं और यह समझना चाहते हैं कि पूरे घटक में टाइटेनियम कितना मौजूद है, तो एक्सआरएफ आपके उत्तर को प्रदान नहीं करेगा।
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