Nanyang JZJ ritiene che studiare l'uso della fluorescenza di raggi X (XRF) su materiali diversi sia una conoscenza significativa. Gli scienziati utilizzano i raggi X basandosi sul principio della tecnica chiamata 'spettrometro XRB', che loro fornisce informazioni sugli elementi presenti nei materiali atomicamente sottili. Ma dobbiamo anche considerare alcuni svantaggi di questo strumento. Ecco cinque limitazioni semplificate dello XRF per spiegarle.
Valore: Funziona facilmente con materiali diversi elementi in contrasto con i metodi ICP che sono fondamentalmente limitati. Di sicuro non è perfetto e ci sono alcune limitazioni di watchQuery. Ci sono alcune cose che l'XRF non rileva affatto. Questo è perché alcuni degli elementi che contengono non emettono raggi X che vengono letti dalla macchina. Alcuni gas e metalli più pesanti potrebbero non essere identificati come l'XRF, che non li rileva se stai analizzando un materiale che include tali elementi. Questo è subottimale poiché, cosa succede se vuoi controllare quegli elementi in seguito…? Allora forse avere la scheda nella posizione i nativamente porterebbe a un'altra configurazione completamente e richiederà più tempo.
Standard: Un problema principale legato agli scienziati che utilizzano la XRF per quantificare un qualsiasi elemento in una sostanza è che le leggi scientifiche richiedono loro di utilizzare standard. Lo standard è un valore per l'elemento che la macchina conosce per aiutarla a identificare cosa cercare o misurare e con quale precisione. Ciò rende impossibile sapere con certezza quanto dell'elemento sia effettivamente presente nel tuo campione. Li rende difficili da misurare con precisione. I risultati delle ricerche potrebbero portare a errori, o il materiale in questione potrebbe essere utilizzato in modo errato se le misurazioni non sono esatte.
Tuttavia, un limite significativo dell'XRF è che fornisce solo un'analisi della superficie. In altre parole, quando si tratta di un materiale con vari strati, l'XRF può rilevare solo il primo strato. Un esempio di questo è che con un pezzo di legno dipinto come nell'immagine sopra, possiamo dirti qual tipo di vernice è applicata all'esterno, ma non se ci sono superamenti dei limiti di piombo o stencil, ecc., al suo interno. Evita l'uso di parole come non distruttivo, altrimenti, uno strumento che svolge solo il suo compito per testare tutta la sezione metallica, l'XRF studierà solo il rivestimento. Se ti preoccupi solo delle cose nei primi pochi micron, questo non è un problema, ma se esistono informazioni importanti su ciò che si trova sotto la superficie, allora l'XRF non sarebbe necessariamente ideale. Se devi, cerca altri modi per ottenere quelle informazioni sullo sfondo.
Capacità del XRF di rilevare eventuali cambiamenti nel materiale in analisi. Ciò rende i risultati abbastanza sensibili a qualsiasi piccola deviazione nelle proprietà del materiale. Se, per esempio, il materiale contiene numerosi elementi diversi mescolati insieme in modo impossibile da separare fisicamente per analizzarli indipendentemente, il XRF potrebbe non essere in grado di determinare con precisione quanto di ciascun elemento è presente. Inoltre, se il materiale è lo stesso ma l'elemento si trova in uno stato chimico diverso (forma, ad esempio +2 o +3 ecc.), ciò confonde nuovamente i risultati del XRF. Tale sensibilità può causare sorprese che mettono in discussione la fiducia di un ricercatore nei dati che riceve.
Un'altra misura critica che lo XRF non può raggiungere è in grado di fornire informazioni sulla profondità di penetrazione all'interno di un materiale. Lo XRF guarda solo la superficie, quindi non ci fornisce un'immagine di quanto sia disperso attraverso il proprio volume — siano essi rivestimenti o elementi superficiali. Se classifichi il materiale in un numero esatto di elementi, questo può essere un grosso problema. Un esempio di ciò sarebbe se stai ispezionando un oggetto metallico e vuoi capire quanto titanio esiste in tutto il componente; lo XRF non ti darà la risposta.
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