Чистті қырыққағаз үшін XRF топтау әдісін пайдалану мүмкін бе?

XRF (X-тiaу флюоресценция спектроскопиясы) топтау әдісін пайдаланып сыйырма көмбірек талдау мүмкін, бірақ нәтижелердің дәлдігін taмендеу үшін келесі маңызды нүктелерге назар аудару керек:

1. Топтау мысалы мүмкіндігі
Температура қырымдастыруы талаптары: Таза қызыл metall-дың қырымдастыру температурасы шамамен 1085°C, ал традиционалық флюс-тар (мысалы, литий тетрабораты) қырымдастыру температурасы әдетте 900–1100°C аралығында. Қырымдастырудың толық болуын сақтау үшін флюс соңырғысын негізделту керек немесе жоғары қырымдастыру температурасы бар флюс (мысалы, литий метабораты) пайдалану керек.

Оксидация қоғамы: Қызыл metall-дің өткізгі температурада қолай-қолай оксидациялауы мүмкін. Оксидациядан қорғалу үшін инерт газ (мысалы, аргон) ортасында қырымдастыру немесе деоксидатор (мысалы, металл литий) қосу тұсіндіріледі.

2. Негізгі мысал дайындалуын жетілдіру
Флюс-тар мен мысал соңырғысы: Матрица еффектін кеміту үшін, ал қалыптылықты сақтау үшін 10:1-ден 20:1-ге дейінгі флюс тәріздік соңырғысы пайдаланылады.

Жауһардық қылынуын жетілдіру: Жоғары маңызды қылынуын жетілдіру және пузырлерді және кристаллизацияны кеміту үшін аз шамада нитрат (мысалы, литий нитраты) немесе аммоний йодиді қосу мүмкін.

3. Матрицалық ефект түзету
Жоғары сапалы матрицалық ефект: Жергілікті қырғыздың негізгі элементі (Cu) кішкентай элементтердің сигналын жабағыз болуы мүмкін. Матрицаның бірдей болатын стандарттық негізде шамалау шегін құру керек.

Тестер алатын құрылғының шамалауы: Матрицалық қарсы әсері эмпирикалық коэффициенттік әдісі (EC) немесе теориялық альфа коэффициенттік әдісі (FP) арқылы түзетіледі.

4. Варианттарды салыстыру
Топтау әдісі: Егер тек поверхненің қосымша талдауы қажет болса, пробаны полирлеуден кейін басқару немесе тексеру арқылы қолдану мүмкін, бірақ оның қабаттары немесе қопырғалармен әсер етуі мүмкін.

Басқа техникалық қосымшалар: Айрим елеуліктерге (мысалы, ppm деңгейінде) ICP-OES немесе GD-MS әдістерін біріктіру арқылы эмптиялдықты жоюға болады.

5. Қолданбалы сұрақтар
Стандарттік негізгі материалдарды таңдау: Калибровка үшін сертификатталған шыныс негізіндегі стандарт материалдар (мысалы, NIST сериясы) тиімді.

Тексеру эксперименті: Негізді пайыздан кейін, стек мембранның бірдейдігін микроскоп астында бақылаңыз, соңғы нәтижелерді қайта-қайта тексеру арқылы дәлдігін бағалаңыз.

Қорытынды
Шыныс үшін XRF пайыз әдісі қолданылатын, бірақ пайыз шарттарын (температура, атмосфера, флюкс пропорциясы) жетілдіру керек және матрица әсерін мақсаттау арқылы туындайды. Жоғары дәлдік қажет болса, стандарт негіздер мен аппараттық калибровка әдістерін біріктіру немесе басқа анализ әдістерімен нәтижелерді тексеру тиімді.